掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS）

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儀器名稱:掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS） 生產廠家:日本日立 儀器型號:S-4800 購入時間: 目前狀態(tài):正常使用中 測試費用:面議 聯(lián)系人:掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS）

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技術指標

二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)
背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)
電子槍:冷場發(fā)射電子源
加速電壓:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可變）
放大倍率:×30 ~ ×800,000。
X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。

相關應用

用于觀察材料表面的微細形貌、斷口及內部組織，并對材料表面微區(qū)成分進行定性和定量分析，主要用途如下： 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機或有機固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察；?材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；?金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定；?納米材料及其它無機或有機固體材料的粒度觀察和分析 ；?進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。?